韓國(guó)MICRO PIONEER X射線鍍層測(cè)厚儀測(cè)量樣品高度達(dá)到20cm
韓國(guó)先鋒XRF-2000X射線鍍層測(cè)厚儀開發(fā)出一款產(chǎn)品型號(hào)加高H型
機(jī)箱容納樣品長(zhǎng)寬均為55cm,高度在原基礎(chǔ)上容納電鍍工件10CM可加高至20CM
此款型號(hào)可滿足客戶對(duì)大型樣品檢測(cè)要求,對(duì)測(cè)量五金工件,電氣類工件
及衛(wèi)浴電鍍工藝能準(zhǔn)確測(cè)量出電鍍層厚度。
韓國(guó)XRF-2000X射線鍍金層測(cè)厚儀
檢測(cè)電鍍層厚度,可檢測(cè)鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍錫,鍍鋅,鍍鉻,鍍鈀等
可測(cè)量單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層
單鍍層:如銅上鍍鎳,銅上鍍銀,銅上鍍錫,鐵上鍍鎳等,不限底材
雙鍍層:銅上鍍鎳鍍金,鐵上鍍銅鍍鎳等
多鍍層:鐵上鍍銅鍍鎳鍍銀,銅上鍍鎳鍍鈀鍍金等
合金鍍層:銅上鍍鋅鎳等
XRF-2000X射線鍍層測(cè)厚儀
儀器配置
全自動(dòng)臺(tái)面
自動(dòng)雷射對(duì)焦
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品)
測(cè)量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測(cè)試范圍:0.04-35um
可測(cè)試單層,雙層,多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測(cè)量時(shí)間:15秒
精度控制:
*層:±5%以內(nèi)
第二層:±8%以內(nèi)
第三層:±12%以內(nèi)
X射線鍍層測(cè)厚儀/X射線金屬鍍層測(cè)厚儀(韓國(guó)先鋒XRF-2000)
韓國(guó)先鋒XRF2000鍍層測(cè)厚儀
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀共分三種型號(hào)
不同型號(hào)各種功能一樣
機(jī)箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀型號(hào)介紹
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀H型:測(cè)量樣品高度不超過10cm
XRF-2000電鍍測(cè)厚儀L型:測(cè)量樣品高度不超過3cm
以上兩款型長(zhǎng)容納樣品長(zhǎng)寬為55cm
加高型容納樣品至20CM內(nèi)
XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測(cè)量樣品高度不超3cm(開放式設(shè)計(jì),長(zhǎng)寬不限)