X光鍍層測(cè)厚儀采用磁性和渦流兩種方法進(jìn)行測(cè)厚
點(diǎn)擊次數(shù):1095 更新時(shí)間:2019-06-13
X光鍍層測(cè)厚儀可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,不單性能*,而且價(jià)錢*,同比其他牌子相同配置的機(jī)器,X光鍍層測(cè)厚儀為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整。超大/開放式的樣品臺(tái),可測(cè)量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的選擇??蓽y(cè)量各類金屬層、合金層厚度等。
X光鍍層測(cè)厚儀的工作原理:
X光鍍層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,可無損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。
1、磁性法(F型測(cè)量頭):
當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí),測(cè)量頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
2、渦流法(N型測(cè)量頭):
利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí),金屬基體上產(chǎn)生電渦流,并對(duì)測(cè)量頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?,通過測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。
X光鍍層測(cè)厚儀的產(chǎn)品特點(diǎn):
1、良好的射線屏蔽作用。
2、測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。
3、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加。
4、滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求。
5、φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求。
6、高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm。
7、采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度。
8、定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊。
9、鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)。