X光鍍層測厚儀在日常作業(yè)中都應(yīng)用了哪些原理?
點擊次數(shù):921 更新時間:2021-03-23
X光鍍層測厚儀是一種用于查看物體厚度的儀器儀表。在工業(yè)生產(chǎn)測厚中廣泛運用。這類儀器,根據(jù)其測量辦法的不一樣,大致可以劃分為以下幾個種類:運用嶸湎摺⑩射線、y射線穿透特性的放射性厚度計;選用超聲波頻率改動的超聲波厚度計以及選用渦流原理的電渦流厚度計;還有電容式厚度計等。
此外,運用微波和激光技術(shù)制成厚度計,現(xiàn)在還處在研發(fā)、試驗期間。X光鍍層測厚儀可測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、搪瓷、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:搪瓷、橡膠、油漆、塑料等)。既可用于實驗室中的精細(xì)測量,也可用于工程現(xiàn)場廣泛地運用在金屬制造業(yè)、化工業(yè)、航空航天、科研開發(fā)等范疇,是企業(yè)確保產(chǎn)品質(zhì)量、商查看控、*的查看儀器。
X光鍍層測厚儀作業(yè)原理:
膜厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
1、磁性法:當(dāng)測量頭與覆蓋層接觸時,測量頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
2、渦流法:利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場,當(dāng)測量頭與覆蓋層接觸時,金屬基體上產(chǎn)生電渦流,并對測量頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用,通過測量反饋作用的大小可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。