X熒光鍍層測(cè)厚儀物理意義及應(yīng)用
點(diǎn)擊次數(shù):1121 更新時(shí)間:2016-05-25
X熒光鍍層測(cè)厚儀測(cè)量模式用于:
單、雙及三層鍍層系統(tǒng);
雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測(cè)量;
雙層鍍層,其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測(cè)量和分析(兩層的厚度和合金成分都能被測(cè)量);
能分析多達(dá)四種金屬成分的合金;電鍍液中金屬離子含量;
可編程的應(yīng)用項(xiàng)圖標(biāo),用于快速應(yīng)用項(xiàng)選擇;
完整的統(tǒng)計(jì)功能,SPC圖,標(biāo)準(zhǔn)的概率圖和矩形圖評(píng)估;
報(bào)告生成,數(shù)據(jù)輸出;
語(yǔ)言可選擇:英語(yǔ),德語(yǔ),法語(yǔ),意大利語(yǔ),西班牙語(yǔ),及中文;
菜單中的某些選擇項(xiàng)可授權(quán)使用;
注:基礎(chǔ)WinFTM軟件版本不允許創(chuàng)建新的應(yīng)用,所要求的應(yīng)用不得不在定貨時(shí)明確。當(dāng)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊與儀器一起定購(gòu)時(shí),可在交貨前預(yù)先創(chuàng)建應(yīng)用。若沒(méi)有定購(gòu)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊,則只可使用已預(yù)裝的*無(wú)需標(biāo)準(zhǔn)塊的測(cè)量應(yīng)用。
可選擇的Super WinFTM軟件(訂貨號(hào)602-950)提供了以下的附加功能:
可隨意創(chuàng)建測(cè)量應(yīng)用;
可把每種測(cè)量模式的測(cè)量范圍設(shè)定為想要的理論上的測(cè)量精度;
快速的頻譜分析以決定合金成分;
X熒光鍍層測(cè)厚儀物理意義:
X射線是電磁波譜中的某特定波長(zhǎng)范圍內(nèi)的電磁波,其特性通常用能量(單位:千電子伏特,keV)和波長(zhǎng)(單位:鈉米,nm)描述。X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。一個(gè)穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。這些核外電子圍繞著原子核按不同軌道運(yùn)轉(zhuǎn),它們按不同的能量分布在不同的電子殼層:分布在同一殼層的電子具有相同的能量。
當(dāng)具有高能量的入射(一次)X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),會(huì)打破原子結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性。處于低能量電子殼層(如:K層)的電子更容易被激發(fā)而從原子中逐放出來(lái),電子的逐放會(huì)導(dǎo)致該電子殼層出現(xiàn)相應(yīng)的電子空位。這時(shí)處于高能量電子殼層的電子(如:L層)會(huì)躍遷到該低能量電子殼層來(lái)補(bǔ)充相應(yīng)的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來(lái),不同的元素所釋放出來(lái)的二次X射線具有特定的能量特性。儀器通過(guò)探測(cè)不同的元素所釋放出來(lái)的二次X射線具有特定的能量特性,進(jìn)行分析計(jì)算得到各鍍層厚度,這一個(gè)過(guò)程就是我們所說(shuō)的X射線熒光測(cè)厚。
應(yīng)用
X熒光鍍層測(cè)厚儀有著快速,準(zhǔn)確,非破壞,非接觸,多層合金測(cè)量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測(cè)量,從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用