產(chǎn)品展示
銅上鍍銀X射線膜厚儀的詳細(xì)資料:
銅上鍍銀X射線膜厚儀
韓國XRF-2000X光鍍層測(cè)厚儀
韓國XRF-2000X光鍍層測(cè)厚儀
測(cè)量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等
可測(cè)單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層等。
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀共三款型號(hào)
不同型號(hào)功能一樣
機(jī)箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀型號(hào)介紹
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀H型:測(cè)量樣品高度不超過10cm
XRF-2000電鍍測(cè)厚儀L型:測(cè)量樣品高度不超過3cm
XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測(cè)量樣品高度不超3cm
儀器功能
全自動(dòng)臺(tái)面
自動(dòng)雷射對(duì)焦
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品)
測(cè)量樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以內(nèi)四種規(guī)格可選
鍍層厚度測(cè)試范圍:0.03-35um
可測(cè)試單層,雙層,多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測(cè)量時(shí)間:10-30秒
韓國XRF2000X光鍍層測(cè)厚儀精度控制:
*層:±5%以內(nèi)
第二層:±8%以內(nèi)
第三層:±15%以內(nèi)
銅上鍍銀X射線膜厚儀
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