X射線金屬鍍層測(cè)厚儀韓國(guó)XRF-2000L型的詳細(xì)資料:
X射線金屬鍍層測(cè)厚儀韓國(guó)XRF-2000L型
備注:XRF-2000型測(cè)厚儀現(xiàn)已全部升級(jí)為XRF-2020系列
XRF-2020測(cè)厚儀:快速無(wú)損測(cè)量電鍍層膜厚儀
儀器產(chǎn)地:韓國(guó)
品牌:Micropioneer
型號(hào):XRF-2020H型,XRF-2020L型
規(guī)格型號(hào)如下圖所示
儀器規(guī)格
XRF-2020L型:測(cè)量樣品長(zhǎng)寬55cm,高3cm:臺(tái)面載重3kg
XRF-2020H型:測(cè)量樣品長(zhǎng)寬55cm,高12cm:臺(tái)載重5kg
儀器全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦,多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量
多個(gè)準(zhǔn)直器可選擇:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多個(gè)或單個(gè)準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動(dòng)切換
Microp XRF-2020測(cè)厚儀(韓國(guó)微先鋒)
快速無(wú)損測(cè)量鍍金,鍍銀,鍍錫,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅鎳合金等!
測(cè)量原理:
物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài),此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái),而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度,來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。
測(cè)量方法:X熒光法
特征:快速無(wú)損檢測(cè)
儀器特長(zhǎng):全自動(dòng)臺(tái),自動(dòng)雷射對(duì)焦!測(cè)量準(zhǔn)確
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