膜厚測(cè)量儀韓國微先鋒XRF-2000L型的詳細(xì)資料:
膜厚測(cè)量儀韓國微先鋒XRF-2000L型
韓國微先鋒XRF-2000系列型號(hào)均已升級(jí)XRF-2020
功能及應(yīng)用:快速無損測(cè)量電鍍層厚度
可測(cè)單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層
儀器規(guī)格
XRF-2020L型:測(cè)量樣品長寬55cm,高3cm:臺(tái)面載重3kg
XRF-2020H型:測(cè)量樣品長寬55cm,高10cm:臺(tái)載重5kg
儀器全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦,多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量
多個(gè)準(zhǔn)直器可選擇:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多個(gè)或單個(gè)準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動(dòng)切換
Microp XRF-2020測(cè)厚儀(韓國微先鋒)
快速無損測(cè)量鍍金,鍍銀,鍍錫,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅鎳合金等!
測(cè)量原理:
物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài),此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來,而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量儀或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度,來進(jìn)行定性和定量分析。
功能及應(yīng)用:快速無損測(cè)量電鍍層厚度
可測(cè)單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層
MicroP XRF-2020韓國測(cè)厚儀
鍍銀測(cè)量范圍0.1-50um
鍍鎳測(cè)量范圍0.5-30um
鍍銅測(cè)量范圍0.5-30um
鍍錫測(cè)量范圍0.5-50um
鍍金測(cè)量范圍0.02-6um
鍍鋅測(cè)量范圍1-30um
鋅鎳合金測(cè)量范圍1-25um
鍍鉻測(cè)量范圍0.5-25um
膜厚測(cè)量儀韓國微先鋒XRF-2000L型號(hào)已升級(jí)至XRF-2020系列
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