產(chǎn)品展示
X-RAY膜厚測試儀韓國XRF-2000L測厚儀的詳細(xì)資料:
X-RAY膜厚測試儀韓國XRF-2000L測厚儀
用于測量PCB及五金、連接器、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。
只需要10-30秒即可獲得測量結(jié)果
小測量面積為直徑為0.2mm的圓面積;
測量范圍:0-35um;
可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量
電鍍膜厚儀型號功能XRF-2020測厚儀規(guī)格
XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg
XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高10cm:臺載重5kg
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點(diǎn)自動測量
多個準(zhǔn)直器可選擇:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多個或單個準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動切換
X-RAY膜厚測試儀韓國XRF-2000L測厚儀
快速無損測量
鍍金,鍍銀,鍍錫,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅鎳合金等!
適應(yīng)電子電鍍表面處理,五金,端子連接器,半導(dǎo)體,PCB板
汽車零配件磁性材料等行業(yè)。
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